壓力下屏蔽及極化子效應(yīng)對有限深量子阱中施主結(jié)合能的影響.pdf

1、本文考慮壓力及準(zhǔn)二維電子氣對雜質(zhì)庫侖勢屏蔽的影響，計及各向同性電子有效質(zhì)量，材料介電常數(shù)及禁帶寬度隨流體靜壓力的變化，利用變分法討論有限深量子阱中的施主雜質(zhì)態(tài)能級。 對GaAs/A1<,x>Ga<,1-x>As量子阱中的雜質(zhì)態(tài)結(jié)合能進行了數(shù)值計算，給出結(jié)合能隨鋁組份，阱寬和壓力的變化關(guān)系，并討論了有無屏蔽時的區(qū)別．結(jié)果顯示，屏蔽效應(yīng)隨壓力而增加，且顯著降低雜質(zhì)態(tài)的結(jié)合能。 計算結(jié)果表明，雜質(zhì)態(tài)結(jié)合能隨壓力明顯增大．一方面

2、，屏蔽使結(jié)合能明顯下降，另一方面，屏蔽使結(jié)合能對壓力的敏感程度降低．結(jié)合能在有、無屏蔽時均隨阱寬的增加先增后減，在中間阱寬時出現(xiàn)極值，屏蔽使極值峰更為尖銳，在寬阱和窄阱時，屏蔽的影響更加明顯。 在鋁組份取0≤x≤0.4的范圍內(nèi)，結(jié)合能隨鋁組份單調(diào)非線性增加，屏蔽效應(yīng)使結(jié)合能降低，其變化趨勢大致與無屏蔽時一致。 進而，考慮壓力及屏蔽效應(yīng)，同時計入量子阱結(jié)構(gòu)中三類光學(xué)聲子模(局域類體光學(xué)聲子、半空間類體光學(xué)聲子和界面光學(xué)聲子