不同途徑鉛暴露對大鼠海馬錐體神經(jīng)元興奮性及鈉通道的影響.pdf

1、鉛是一種廣為人知的環(huán)境神經(jīng)毒素。長時間的低鉛暴露能夠造成認知功能的損傷，但造成這種損傷的機制尚未闡明。本實驗運用常規(guī)的全細胞膜片鉗技術研究了不同途徑的鉛暴露對大鼠海馬腦片CA1區(qū)錐體神經(jīng)元可興奩性和興奮性相關的電壓門控離子通道的影響以及產(chǎn)生這些影響的可能機制。 急性鉛暴露實驗的結果顯示低鉛(0.5/5μM)暴露不能顯著改變錐體神經(jīng)元的單個動作電位發(fā)放的電壓閾值及波形的各項參數(shù)；但是，5μM急性鉛暴露顯著增加了大鼠海馬腦片CA1區(qū)

2、錐體神經(jīng)元動作電位的發(fā)放頻率，減弱了峰電位頻率適應(spike frequency adaptation)；5μM鉛所造成的這種興奮性影響可以被T型電壓門控鈣離子通道(VDCC)的阻斷劑mebifradil所阻斷，但不能被L型VDCC阻斷劑verapamil或者N型VDCC阻斷劑ω-conotoxin所阻斷；胞外無鈣的條件下，5μM鉛不能產(chǎn)生這種興奮性的影響；另外，IP<,3>R拮抗劑2-APB和RyanodineR拮抗劑dantrol

3、ene可以分別取消5μM鉛的這種興奮性影響，而鈣離子內(nèi)攝的阻斷劑thapsigargin則對這種興奮性影響只有部分減弱的作用。這些結果顯示了低濃度急性鉛暴露對錐體神經(jīng)元產(chǎn)生的興奮性神經(jīng)毒性以及T型VDCC在其中所作的貢獻，同時，低鉛的這種興奮性神經(jīng)毒性有可能與其參與了胞內(nèi)鈣庫釋放的調(diào)節(jié)從而影響了動作電位發(fā)生時期的鈣內(nèi)流相關。 發(fā)育期慢性鉛暴露實驗的結果顯示從受孕日至生產(chǎn)后15日對母鼠進行慢性的鉛暴露會對子鼠大腦海馬腦片CA1區(qū)錐

4、體神經(jīng)元的電壓門控鈉通道電流的特性產(chǎn)生固有的影響。這些影響包括鉛升高了鈉電流的激活電壓閾值、升高了誘發(fā)最大電流的電壓、使鈉電流的穩(wěn)態(tài)激活藍線正向移動、增大尾電流；鉛延遲鈉電流的快速激活失活；以及鉛使得鈉電流的穩(wěn)態(tài)失活曲線向右移動、加速鈉電流活性依賴的失活，但對于鈉電流從失活狀態(tài)復活的時程和比例沒有顯著性的影響。另外，采用一種有效的抗氧化劑和自由基清除劑α-tocopherol(VE)與鉛共暴露的結果顯示，上述發(fā)育期鉛暴露所造成的鈉電流特