液晶驅動控制芯片可測性設計方法學研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路工藝復雜度和設計復雜度的提高，集成電路的測試成本在總的設計成本中所占的比例正逐年攀升，集成電路的測試變得越來越困難，傳統(tǒng)的自動測試設備（ATE）已經不能滿足集成電路測試的需求，可測性設計已經成為了解決芯片測試問題的主要手段?？蓽y性設計技術目前是VLSI設計中的熱點，它通過增加一些額外的電路來提高電路的可測性以降低測試的復雜性。本文以STNLCD驅動控制芯片的設計為實例，對目前主流的各種可測性技術進行了比較分析，形成了自己的結

2、構化測試方案。本芯片的嵌入式SRAM采用內建自測試的解決方案，通過對面向bit讀寫的March算法的改進形成了適合檢測本項目的March算法，此算法可以有效的檢測出SRAM中存在的固定型故障、跳變故障、地址譯碼故障、讀寫開路故障及耦合故障。根據本設計內嵌SRAM的結構特點，在MBIST電路結構上采取并行測試方式，有效地節(jié)約了MBIST給芯片帶來的硬件開銷。本設計的核心邏輯部分采用基于Stuck-at故障的全掃描測試方案，選取多選觸發(fā)器掃

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