無源表貼元件的測試方法與技術研究.pdf

1、現代電子電路具有集成化、小型化的特點，無源表貼元件（SMD）已經成為電子設計的主流，并廣泛應用于射頻領域的電路設計中。因此，在射頻頻段準確地測試表貼元件的特性參數，對于電子電路的設計是至關重要的。目前，對無源表貼元件的測量主要集中在低頻段（1GHz以下），高頻段的測試技術尚未成熟，國內還缺乏合適的測試方法。針對這一現狀，本文對無源表貼元件在射頻頻段的測試技術進行了系統(tǒng)研究，得到了較為成功的測試方法。
　　本文主要的研究工作如下：<

2、br>　　1．本文通過分析國內外相關技術，依據無源表貼元件的物理特性，確定了采用網絡分析技術和微帶線傳輸測試相結合的方案。
　　2．分析了二端口網絡誤差模型和校準方法的基本原理，采用TRL校準方法，確定了相應的十項誤差模型，獲得了誤差參數和S參數的計算公式。
　　3．根據本文設計要求，建立了在2~12GHz的TRL校準電路和串聯(lián)直通測試電路，并在此基礎上設計了測試夾具的機械結構，優(yōu)化了PCB板TRL校準與測試電路的性能，提高

3、了測試方法和測試系統(tǒng)的適用性。
　　4．建立了自動測試系統(tǒng)，實現了校準、測試的自動化。編寫了vb控制程序，實現了計算機對矢量網絡分析儀的控制和數據采集；編寫了 matlab計算程序，完成了射頻無源表貼元件參數的提取。
　　本文完成了測試系統(tǒng)和相應軟件的調試。在校準測試系統(tǒng)后，對貼片電容進行了實測，得到了電容器相關參數隨頻率的變化特性，其曲線變化規(guī)律與表貼電容射頻段的基本特性相吻合。同時，采用該測試系統(tǒng)對貼片電阻和電感進行了測